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Tag Archives: EUV

レーザーテック、次世代EUVに対応するパターンマスク欠陥検査装置、ACTIS A300を発表

半導体検査装置を手掛けるレーザーテックは11月24日、High NA EUVリソグラフィに対応するEUVパターンマスク欠陥検査装置ACTIS「A300」シリーズを発表した。 同社ではこれまでに、EUVリソグラフィに対応す…

Intel、アイルランドの新工場でEUVを用いた「Intel4」の量産を開始

米国の半導体大手・Intelは9月27日、アイルランドのリークスリップにあるFab34の開設を正式に発表し、極端紫外線を用いた製造プロセス「Intel 4」を適用した量産を開始したと発表した。 Intel4の製造プロセス…

Micron・広島工場に大規模投資を発表。国内初のEUV露光装置による量産へ

米マイクロンテクノロジーは日本国内の広島工場に5,000億円を投資し、最先端DRAMの量産に向けて広島工場の増強を実施することを発表した。 今回の増強ではASML(蘭)のEUV(極端紫外線)露光装置や東京エレクトロンの関…

AGC、EUVマスクブランクスの生産能力を従来比30%増強へ

AGCは、2023年4月27日、子会社のAGCエレクトロニクスの本宮工場で生産を行うEUV露光に用いられるフォトマスクブランクスについて、生産能力を増強することを発表した。 生産能力を増強するラインは、2024年1月から…

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