Tag Archives: 半導体検査装置

アドバンテスト、テストインターフェースボードサプライヤー企業を買収

半導体検査装置大手のアドバンテストは、米国のテストインターフェースボードサプライヤーのR&D Altanova Inc.（以下「R&D Altanova」）の買収について最終合意に至ったことを発表した。 …

Written on 11月 2, 2021 at 10:42 AM, by global-admin

米KLA社は2021年6月22日、自動車用半導体製造工程の歩留りと信頼性の向上を実現するための新しい検査装置3機種およびインラインスクリーニングソリューションを発表した。今回発表した新製品は、生産性を高めたパターン付き…

Written on 6月 28, 2021 at 6:23 PM, by global-admin

米Applied Materials（AMAT）社は2021年3月17日、新しい光学式パターン付きウエハ欠陥検査装置「Enligh」とビッグデータとAIに基づくプロセスコントロール技術を発表した。　Enlightは、業…

Written on 3月 22, 2021 at 6:09 PM, by global-admin

浜松ホトニクスは2021年3月3日、ウェーハ上のマイクロLEDの外観、輝度、発光波長の異常を高速で検査できる「MiNY（マイニー）PL マイクロLED PL検査装置 C15740-01」を開発したことを発表した。2021…

Written on 3月 8, 2021 at 5:07 PM, by global-admin