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Tag Archives: 半導体検査装置

KLA、2023年6月期1Q売上高は前年度比31%増

米KLA社は2022年10月26日、2023年6月期第1四半期(2022年7月〜9月)業績を発表した。同期の売上高は27億2,400万米ドルで、前年度同期比30.7%増、前期比9.5%増となった。純利益は10億2,600…

アドバンテスト、テストインターフェースボードサプライヤー企業を買収

半導体検査装置大手のアドバンテストは、米国のテストインターフェースボードサプライヤーのR&D Altanova Inc.(以下「R&D Altanova」)の買収について最終合意に至ったことを発表した。 …

KLA、自動車用半導体向け検査装置を発表

米KLA社は2021年6月22日、自動車用半導体製造工程の歩留りと信頼性の向上を実現するための新しい検査装置3機種およびインラインスクリーニングソリューションを発表した。 今回発表した新製品は、生産性を高めたパターン付き…

AMAT、新ウエハ欠陥検査装置を開発

米Applied Materials(AMAT)社は2021年3月17日、新しい光学式パターン付きウエハ欠陥検査装置「Enligh」とビッグデータとAIに基づくプロセスコントロール技術を発表した。  Enlightは、業…

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