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Tag Archives: 半導体検査装置

エプソン、兼松へ半導体検査装置事業を売却

セイコーエプソンは、1月28日「Epson 25 第二期中期経営計画」において、同社ロボティクスソリューションズ事業の商品ポートフォリオの適正化を行い、よりエプソンの強みが発揮できる分野へ経営を集中させることを目的として…

ディスコ、ダイシング後のチップ品質管理向け全自動測定装置を開発

ディスコは2020年11月26日、ダイシング後のウエハからチップをピックアップし、厚さ・チッピング測定、裏面粗さ測定、抗折強度測定(破壊検査)を全自動で実施する装置「DIS100」を開発したことを発表した。 従来手作業で…

東京エレクトロンデバイス、新たな化合物半導体ウエハ表面欠陥検査装置の販売を開始

東京エレクトロン デバイス株式会社は、化合物半導体ウエハ表面の欠陥を高速、高感度で検出するマクロ検査装置「RAYSENS」を開発し、6月9日より販売を開始した。 この検査装置は、5Gをはじめとする次世代通信インフラ、自動…

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