半導体製造装置大手、米Applied Materials(AMAT)は2月19日、微細な半導体プロセスに対応する欠陥レビュー装置「SEMVision H20」を発表した。次世代電子ビームとディープラーニングAIの搭載によ…
Written on 2月 26, 2025 at 9:52 AM, by global-admin
No Comments
Categories: GNCレター, 記事一覧
Tags: applied materials, 半導体検査装置, 新製品
SCREENホールディングスは1月29日、グループ会社3社と共同で、半導体ウエハやプリント基板向けの最新AI検査計測ソリューションを、新ブランド「SCRAIS(スクライズ)」として立ち上げることを発表した。2024年6月…
Written on 2月 6, 2024 at 9:42 AM, by global-admin
Tags: AI, SCREEN, 半導体検査装置
半導体検査装置を手掛けるレーザーテックは11月24日、High NA EUVリソグラフィに対応するEUVパターンマスク欠陥検査装置ACTIS「A300」シリーズを発表した。 同社ではこれまでに、EUVリソグラフィに対応す…
Written on 12月 5, 2023 at 1:37 PM, by global-admin
Tags: EUV, フォトマスク, レーザーテック, 半導体検査装置
SCREENセミコンダクターソリューションズは2022年11月14、次世代パワーデバイスやCMOSイメージセンサ（CIS）、MEMSなどのパターン検査に対応するウェーハ外観検査装置「ZI-3600」を開発。11月から販売…
Written on 11月 22, 2022 at 11:33 AM, by global-admin
Tags: SCREEN, 半導体検査装置
« Older Entries