Tag Archives: 半導体検査装置

リガク、山梨工場に新棟を竣工、生産能力を約2倍へ拡大

X線分析装置の大手であるリガク・ホールディングスのグループ会社、株式会社リガクは、2025年5月23日、主力生産拠点である山梨工場に新たな製造棟を竣工した。この新棟は、国内外で高まるX線分析装置の高まりのもと、「半導体…

Written on 6月 2, 2025 at 2:21 PM, by global-admin

半導体製造装置大手、米Applied Materials(AMAT)は2月19日、微細な半導体プロセスに対応する欠陥レビュー装置「SEMVision H20」を発表した。次世代電子ビームとディープラーニングAIの搭載によ…

Written on 2月 26, 2025 at 9:52 AM, by global-admin

SCREENホールディングスは1月29日、グループ会社3社と共同で、半導体ウエハやプリント基板向けの最新AI検査計測ソリューションを、新ブランド「SCRAIS(スクライズ)」として立ち上げることを発表した。2024年6月…

Written on 2月 6, 2024 at 9:42 AM, by global-admin

半導体検査装置を手掛けるレーザーテックは11月24日、High NA EUVリソグラフィに対応するEUVパターンマスク欠陥検査装置ACTIS「A300」シリーズを発表した。同社ではこれまでに、EUVリソグラフィに対応す…

Written on 12月 5, 2023 at 1:37 PM, by global-admin