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Tag Archives: 半導体検査装置

レーザーテック、次世代EUVに対応するパターンマスク欠陥検査装置、ACTIS A300を発表

半導体検査装置を手掛けるレーザーテックは11月24日、High NA EUVリソグラフィに対応するEUVパターンマスク欠陥検査装置ACTIS「A300」シリーズを発表した。 同社ではこれまでに、EUVリソグラフィに対応す…

SCREEN、パターン付きウェーハ外観検査装置の新製品発売

SCREENセミコンダクターソリューションズは2022年11月14、次世代パワーデバイスやCMOSイメージセンサ(CIS)、MEMSなどのパターン検査に対応するウェーハ外観検査装置「ZI-3600」を開発。11月から販売…

KLA、2023年6月期1Q売上高は前年度比31%増

米KLA社は2022年10月26日、2023年6月期第1四半期(2022年7月〜9月)業績を発表した。同期の売上高は27億2,400万米ドルで、前年度同期比30.7%増、前期比9.5%増となった。純利益は10億2,600…

アドバンテスト、テストインターフェースボードサプライヤー企業を買収

半導体検査装置大手のアドバンテストは、米国のテストインターフェースボードサプライヤーのR&D Altanova Inc.(以下「R&D Altanova」)の買収について最終合意に至ったことを発表した。 …

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