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Tag Archives: X線計測装置

リガク、次世代半導体向けX線ウエーハ計測装置を発売

X線分析装置大手のリガクは2025年12月4日、先端半導体製造ラインにおいて、ウエーハの膜厚や組成を高精度で計測できる「XTRAIA MF-3400」の販売を開始したと発表した。次世代メモリチップやAI向け高速デバイスの…

リガク、台湾に技術拠点「Rigaku Technology Center Taiwan」を開設

リガクホールディングス(HD)は10月20日、台湾のグループ会社であるRigaku Technology Taiwan(RTTW)の敷地内に新たな技術拠点となる「Rigaku Technology Center Taiw…