アドバンテストは2020年9月23日、最先端半導体向けテスト・プラットフォーム「V93000 EXA Scale」を発表した。次世代フラッグシップ製品である「V93000」アーキテクチャをさらに進化させ、スキャンテストの高速化やスループットの向上など数多くのイノベーションを実現した。半導体に100京回／秒の超高速処理が求められる「エクサスケール」の時代において、新たなテスト手法の導入やテストコストの削減、量産までの期間短縮といった成果を実現する。
V93000 EXA Scaleの新デジタル・カード「Pin Scale 5000」は、アドバンテストが独自に開発した1チップあたり8コアの最新テストプロセッサで構成されており、テストの高速化、簡素化を可能にする。大規模なデジタルデバイス特有の膨大なスキャンデータ量を考慮して設計されており、新標準5Gbpsのスキャンテスト、テストプログラムを一括して格納／出力できるベクタ・メモリを備えている。Xtreme Linkと合わせて使用することで業界最高クラスの処理能力を実現する。
また、1ボルト未満で最大数千Aという低電圧大電流の電源は、半導体テスト・システムの重要な差別化要因となっている。新電源カード「XPS256」は、高精度、柔軟な並列駆動（フレシキブル・ギャンギング）、優れた静的／動的パフォーマンスといった特長により、1つのDPSカードであらゆるニーズをカバーする業界革新的な電源となっている。
なお、「Pin Scale 5000」と「XPS256」のチャンネル数は、従来製品比2倍の256チャンネルを実現しました。小さなシステムで多数個同時測定を可能にし、カスタマのテストフロアのインフラコストとスペース削減に貢献する。