グローバルネット株式会社では2025年2月28日（金）に
セミナー「チップレット時代の半導体とボードの検査技術」を開催いたします。

近年、半導体業界ではチップレット技術の進化に伴い、検査技術の高度化が求められています。従来の単一チップ設計から多様なチップレット統合型システムへと移行する中、品質確保のための検査手法が重要な課題となっています。
本セミナーでは、3次元電子モジュールの検査標準、最新のSoC検査技術、チップレットに特化した検査アプローチについて、専門家が詳しく解説します。

【ご講演】

「チップレットの動向とエレクトロニクス検査技術/三次元電子モジュール検査方法の国際標準」
講師：小島 智 氏(コジマイーデザインオフィス　代表)

「テスト技術の進化と未来」
講師：杉浦 央樹 氏
（シーメンスEDAジャパン株式会社　技術本部 Tessent プロダクトマネージャー）

「チップレット検査技術」
講師：亀山 修一 氏（愛媛大学 客員教授）
​

日時：2025年2月28日（金）13:30~

場所：プラザエフ（東京都千代田区、四ツ谷駅より徒歩1分）

参加費：¥30,800(税込)~

お申し込み・詳細はこちら

皆様のお申し込みをお待ちしております。